| 用途 | |||
|---|---|---|---|
用于检查半导体晶片的不良品时作记号。 | |||
| 特征 | |||
极低的离子量 每个点都具有极高的均匀性 （不论是连续还是间隔作记号） 决不会流淌扩散 每个点的高度小于30μm 用丙酮可以将其完全洗净，可以进行再测试 具有防水性 适用期长 | |||
| 主要技术性能 | |||
| 点的均匀性 | ： | ± 5% | |
| 点的高度 | ： | ≤ 30μm | |
| 渗透误差 | ： | ≤ 20% | |
| 凝固条件 | ： | 160℃/ 40秒 或者 180℃/ 20秒 | |
| 不纯物质浓度 | ： | Na 10ppm. K 3ppm. Cl 10ppm | |
| 适用期 | ： | 2个星期（室温） | |
| 贮存期 | ： | 6个月（-20℃）/2个月（-10℃） | |
| 颜色 | ： | 红 | |
| 基础树脂 | ： | 环氧树脂 | |